浅部電磁法マッピング装置(GEM-300)の現場適用実験結果について Experimental measurements of new multi-frequency EM survey tool(GEM-300)for near surface survey

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収録刊行物

  • 物理探査学会学術講演会講演論文集 = Proceeding of the SEGJ Conference  

    物理探査学会学術講演会講演論文集 = Proceeding of the SEGJ Conference 99, 175-179, 1998-10 

参考文献:  2件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002840134
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10532932
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • データ提供元
    CJP書誌 
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