遺伝的アルゴリズムによる電気探査比抵抗法データの逆解析 Application of Genetic Inversion to Apparent Resistivity Data

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収録刊行物

  • 物理探査学会学術講演会講演論文集 = Proceeding of the SEGJ Conference

    物理探査学会学術講演会講演論文集 = Proceeding of the SEGJ Conference 100, 241-245, 1999-06

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002840599
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10532932
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • データ提供元
    CJP書誌 
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