浮遊炉への期待 "物性測定の面から-半導体融液を例として-" Measurement of Thermophysical Properties of Molten Semiconductors using Levitation Technique

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  • JASMA : Journal of the Japan Society of Microgravity Application

    JASMA : Journal of the Japan Society of Microgravity Application 13(1), 5-8, 1996-01-31

    日本マイクログラビティ応用学会

参考文献:  18件中 1-18件 を表示

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    中村新

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002844723
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10537663
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09153616
  • NDL 記事登録ID
    4226885
  • NDL 雑誌分類
    ZM33(科学技術--宇宙科学) // ZM17(科学技術--科学技術一般--力学・応用力学)
  • NDL 請求記号
    Z15-621
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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