シアーセル法によるゲルマニュウム半導体融液の高精度拡散係数測定技術の開発 Technological Development of highly accurate Diffusion Coefficient Measurement by Shear Cell Method in Germanium Semiconductor Melt

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収録刊行物

  • JASMA : Journal of the Japan Society of Microgravity Application  

    JASMA : Journal of the Japan Society of Microgravity Application 14(4), 331-336, 1997-10-31 

    日本マイクログラビティ応用学会

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002845409
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10537663
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    SHO
  • ISSN
    09153616
  • NDL 記事登録ID
    4468969
  • NDL 雑誌分類
    ZM33(科学技術--宇宙科学) // ZM17(科学技術--科学技術一般--力学・応用力学)
  • NDL 請求記号
    Z15-621
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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