シアーセルによる半導体及び金属融液における高精度拡散係数の測定

• 依田 真一

• 織田 裕久

• 大井田 俊彦

Bibliographic Information

Other Title

• シアーセル ニ ヨル ハンドウタイ オヨビ キンゾクユウエキ ニ オケル コウセイド カクサン ケイスウ ノ ソクテイ
• 特集 MSL-1(3)
• トクシュウ MSL-1 3

Abstract

資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト

Journal

• JASMA = 日本マイクログラビティ応用学会誌 : journal of the Japan Society of Microgravity Application

  JASMA = 日本マイクログラビティ応用学会誌 : journal of the Japan Society of Microgravity Application 16 (2), 111-118, 1999

  東京 : 日本マイクログラビティ応用学会

Details

• CRID: 1520572357950305280
• NII Article ID: 10002845784
• NII Book ID: AN10537663
• ISSN: 09153616
• NDL BIB ID: 4733369
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4733369
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZM33(科学技術--宇宙科学)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles