高圧下のXAFS XAFS Studies under Pressure

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抄録

Recent advance in X-ray Absorption Fine Structure (XAFS) study under pressure is reviewed. After a brief introduction to XAFS and its applications to high-pressure studies, recent development of XAFS measurements under pressure at the Photon Factory is presented. We successfully obtained X-ray absorption spectra at pressures up to 10 GPa and temperatures up to 700°C using a multi-anvil type apparatus, MAX90. Results of our studies on crystalline selenium, amorphous selenium and isolated selenium chains are presented.

収録刊行物

  • 高圧力の科学と技術 = The Review of high pressure science and technology  

    高圧力の科学と技術 = The Review of high pressure science and technology 4(1), 42-48, 1995-02-20 

    The Japan Society of High Pressure Science and Technology

参考文献:  33件

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被引用文献:  2件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002847252
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10452913
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    0917639X
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  J-STAGE 
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