IP式粉末X線回折像解析プログラム An X-ray Powder Pattern Analysis Program for Imaging Plate

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抄録

An x-ray powder diffraction technique with an imaging plate area detector is now widely used in various experimental fields including high pressure research. We developed a computer program named PIP capable of converting two-dimensional powder image to one-dimensional pattern. An aim of this program is to prepare easily, quickly, and user friendly one-dimensional diffraction patterns available for structure analysis such as Rietveld method. In this report, we answer some questions about PIP frequently asked by users.

収録刊行物

  • 高圧力の科学と技術 = The Review of high pressure science and technology  

    高圧力の科学と技術 = The Review of high pressure science and technology 9(1), 65-70, 1999-02-20 

    The Japan Society of High Pressure Science and Technology

参考文献:  13件

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被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002849919
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10452913
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    0917639X
  • NDL 記事登録ID
    4674426
  • NDL 雑誌分類
    ZP1(科学技術--化学・化学工業)
  • NDL 請求記号
    Z17-1589
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL  J-STAGE 
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