走査型プローブ顕微法によるナノトライボロジーの試験

• 比枝 克徳

  広島電機大学

• 佐伯 孝典

  広島電機大学

• 李木 経孝

  広島電機大学

Journal

• 精密工学会大会学術講演会講演論文集

  精密工学会大会学術講演会講演論文集 1997 (2), 272-, 1997-10-01

Details

• CRID: 1571980073983587584
• NII Article ID: 10002871119
• NII Book ID: AN1018673X
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles