レーザー光散乱によるSiウェーハ表面上の微粒子計測 -冷却CCDカメラによる標準試料の測定-

• 井上 晴行

  大阪大学大学院精密科学

• 片岡 俊彦

  大阪大学大学院精密科学

• 遠藤 勝義

  大阪大学大学院精密科学

• 押鐘 寧

  大阪大学大学院精密科学

• 森 勇蔵

  大阪大学大学院精密科学

• 井山 章吾

  大阪大学大学院精密科学

• 竹村 太一

  大阪大学大学院精密科学

• 安 弘

  大阪電気通信大学工学部

Journal

• 精密工学会大会学術講演会講演論文集

  精密工学会大会学術講演会講演論文集 1998 (1), 675-, 1998-03-05

Details

• CRID: 1571980073983691648
• NII Article ID: 10002874016
• NII Book ID: AN1018673X
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles