染色体10q26領域の増幅に伴うK-SAM/FGFR2遺伝子の高頻度な部分欠失領域の同定 Identification of frequent deletion of C-terminus region of the K-SAM/FGFR2 gene during 10Q26 amplication

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収録刊行物

  • 日本分子生物学会年会プログラム・講演要旨集  

    日本分子生物学会年会プログラム・講演要旨集 21, 387, 1998-12-01 

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002918674
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10468414
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • データ提供元
    CJP書誌 
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