光と漏洩磁束を用いた損傷計測システムの開発

• 李鎮伊

収録刊行物

• 光を応用した表面探傷技術シンポジウム講演論文集, 東京

  光を応用した表面探傷技術シンポジウム講演論文集, 東京 55-62, 1997

詳細情報

• CRID: 1570291224193519872
• NII論文ID: 10003522336
• データソース種別:
  • CiNii Articles