原子間力顕微鏡による粒子線飛跡の微小エッチピットの解析法 ANALYTICAL METHOD FOR MINUTE ETCH PITS OF PARTICLE TRACKS USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE

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収録刊行物

  • Medical imaging technology

    Medical imaging technology 13(4), 597-598, 1995-07-01

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10003788332
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10061428
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    0288450X
  • データ提供元
    CJP書誌 
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