Application of Imaging Plates to High-Resolution High-Voltage Electron Microscopy

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収録刊行物

  • Materials transactions, JIM

    Materials transactions, JIM 39(9), 909-913, 1998-09

    Japan Institute of Metals

参考文献:  14件中 1-14件 を表示

  • <no title>

    MORI N.

    Ultramicrosc 25, 195, 1988

    被引用文献1件

  • <no title>

    SHINDO D.

    J. Electron Microsc. 39, 449, 1990

    被引用文献5件

  • <no title>

    AYATO H.

    J. Electron Microsc. 39, 444, 1990

    被引用文献6件

  • <no title>

    ISODA S.

    Ultramicrosc. 35, 329, 1991

    被引用文献2件

  • <no title>

    SHINDO D.

    Ultramicrosc. 54, 221, 1994

    被引用文献1件

  • <no title>

    OGURA N.

    Electron Microsc. 30, 66, 1995

    被引用文献1件

  • <no title>

    SHIBAHARA H.

    J. Electron Microsc. 44, 174, 1995

    被引用文献1件

  • <no title>

    ZUO J. M.

    Ultramicrosc. 66, 35, 1996

    被引用文献1件

  • <no title>

    TANIYAMA A.

    J. Electron Microsc. 46, 303, 1997

    被引用文献10件

  • <no title>

    HORIUCHI S.

    Jpn. J. Appl. Phys. 15, 2483, 1976

    被引用文献3件

  • <no title>

    HORIUCHI S.

    Interface Sci. 2, 239, 1994

    被引用文献1件

  • <no title>

    TANIYAMA A.

    J. Electron. Microsc. 45, 232, 1996

    被引用文献9件

  • <no title>

    YOSHINO T.

    Proc. 3rd Intl. Symp. Superconductivity 355, 1990

    被引用文献1件

  • <no title>

    HORIUCHI S.

    J. Electron Microsc. 42, 166, 1993

    被引用文献4件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10003803889
  • NII書誌ID(NCID)
    AA10699969
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09161821
  • NDL 記事登録ID
    4583305
  • NDL 雑誌分類
    ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
  • NDL 請求記号
    Z53-J286
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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