漏洩磁束探傷におけるリフトオフ効果と欠陥寸法評価方法

• 植竹一蔵

収録刊行物

• 非破壊検査

  非破壊検査 33 (10), 788-, 1984

詳細情報

• CRID: 1571417124110126720
• NII論文ID: 10003924004
• データソース種別:
  • CiNii Articles