カプラ校正法におけるマイクロホン電圧減衰量の測定再現性について(第4報)-セッティング直後における電圧減衰量の時間変化の原因-

• 堀内

収録刊行物

• 音響学会講演論文集

  音響学会講演論文集 3 1995

詳細情報

• CRID: 1570291224311101824
• NII論文ID: 10004084350
• NII書誌ID: AN00351181
• データソース種別:
  • CiNii Articles