部分放電自動計測劣化診断エキスパートシステムプロトタイプ構築 -位相情報を用いた放電諸量の解析と劣化診断への応用-

• 古森

収録刊行物

• 電学論

  電学論 113 (5), 406-415, 1993

詳細情報

• CRID: 1572261549137875072
• NII論文ID: 10004165575
• NII書誌ID: AN00151717
• データソース種別:
  • CiNii Articles