カプラ校正法におけるマイクロホン間電圧減衰量の測定誤差の要因(第3報) -I型標準マイクロホンB&K4160の場合- Causes of measurement error of voltage attenuation between two standard condenser microphones in coupler calibration system Part3: About type I standard condenser microphone B&K4160

この論文をさがす

収録刊行物

  • 日本音響学会研究発表会講演論文集  

    日本音響学会研究発表会講演論文集 1998(2), 575-576, 1998-09-01 

参考文献:  2件

参考文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004299260
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00351181
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    13403168
  • データ提供元
    CJP書誌 
ページトップへ