ネオンイオン線照射による染色体異常の原子間力顕微鏡による解析

• 村上 正弘

  科学技術庁放射線医学総合研究所

• 南久松 真子

  科学技術庁放射線医学総合研究所

• 江口-笠井 清美

  科学技術庁放射線医学総合研究所

• 古川 章

  科学技術庁放射線医学総合研究所

• 佐藤 弘毅

  近畿大学

• 早田 勇

  科学技術庁放射線医学総合研究所

書誌事項

タイトル別名

• Analysis of chromosome aberration after Neon ion beam irradiation by Atomic Force Microscope (AFM)

収録刊行物

• 宇宙生物科学 = Biological sciences in space

  宇宙生物科学 = Biological sciences in space 13 (3), 250-251, 1999-09

詳細情報

• CRID: 1571980074139377152
• NII論文ID: 10004491804
• NII書誌ID: AN10164806
• ISSN: 09149201
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles