未来開拓学術研究推進事業プロジェクト「次世代超電子顕微鏡の開発」 -能動型画像処理方式に基づく実時間球面収差補正手法の原理- Development of Next Generation Super Electron Microscope -Principle of Real Time Spherical Aberration Correction based on Active Image Processing-

この論文をさがす

著者

    • 生田 孝 IKUTA Takashi
    • 大阪電気通信大学工学部光システム工学科 Dept.of Lightwave Sciences, Osaka Electro-Communication Univ.

収録刊行物

  • 電子顕微鏡  

    電子顕微鏡 34, 21, 1999-05-01 

参考文献:  4件

参考文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004538686
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
ページトップへ