未来開拓学術研究推進事業プロジェクト「次世代超電子顕微鏡の開発」 -能動型画像処理方式に基づく実時間球面収差補正手法の原理- Development of Next Generation Super Electron Microscope -Principle of Real Time Spherical Aberration Correction based on Active Image Processing-

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著者

    • 生田 孝 IKUTA Takashi
    • 大阪電気通信大学工学部光システム工学科 Dept.of Lightwave Sciences, Osaka Electro-Communication Univ.

収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 34, 21, 1999-05-01

参考文献:  4件中 1-4件 を表示

  • <no title>

    IKUTA T.

    Appl.Opt. 24, 216, 1985

    被引用文献3件

  • <no title>

    IKUTA T.

    J.Electron Microsc. 38, 415, 1989

    被引用文献7件

  • <no title>

    TANIGUCHI Y.

    Ultramicroscopy 41, 323, 1992

    被引用文献1件

  • <no title>

    ANDO T.

    Ultramicroscopy 54, 261, 1994

    DOI 被引用文献11件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004538686
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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