Development of Next Generation Super Electron Microscope -Principle of Real Time Spherical Aberration Correction based on Active Image Processing-

• IKUTA Takashi

  Dept.of Lightwave Sciences, Osaka Electro-Communication Univ.

Bibliographic Information

Other Title

• 未来開拓学術研究推進事業プロジェクト「次世代超電子顕微鏡の開発」 -能動型画像処理方式に基づく実時間球面収差補正手法の原理-

Journal

• 電子顕微鏡

  電子顕微鏡 34 21-, 1999-05-01

Details

• CRID: 1572824499112397952
• NII Article ID: 10004538686
• NII Book ID: AN00145000
• ISSN: 04170326
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles