FIBを用いたEDX分析可能な広範囲高分解能電子顕微鏡(LA-HREM)用試料作製法の開発 Development of a Novel Sample Preparation Method using an FIB Apparatus for EDX Analyses in Large-Area High Resolution Electron Microscopy

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著者

収録刊行物

  • 電子顕微鏡  

    電子顕微鏡 34, 78, 1999-05-01 

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004538811
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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