FIB試料作製法によるイオン照射表面の断面TEM観察

• 藤本 靖孝

  名工大

• 今井 敦志

  名工大・院

• 仙田 悟

  名工大・院

• 奥山 文雄

  名工大

書誌事項

タイトル別名

• Cross-Sectional TEM of Ion-Bombarded Solid Surfaces

収録刊行物

• 電子顕微鏡

  電子顕微鏡 34 79-, 1999-05-01

詳細情報

• CRID: 1571980074182276480
• NII論文ID: 10004538812
• NII書誌ID: AN00145000
• ISSN: 04170326
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles