FIB-TEMシステムの金属材料への応用 Characterization of metals using FIB-TEM system

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収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 34, 80, 1999-05-01

参考文献:  2件中 1-2件 を表示

  • <no title>

    松本

    第13回分析電子顕微鏡討論予稿集 76, 1997

    被引用文献1件

  • <no title>

    松本

    日本電子顕微鏡学会第54回学術講演会予稿集 144, 1998

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004538813
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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