DBTTでSi中における亀裂に沿った転位の発生 A dislocation wake along a crack in Si at the DBTT

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収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 34, 113, 1999-05-01

参考文献:  4件中 1-4件 を表示

  • <no title>

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    DOI 被引用文献6件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004538889
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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