1枚の観察像からのコマ収差測定・除去法 -電子顕微鏡への応用-

• 宇津呂 英俊

  阪大・工

• 高井 義造

  阪大・工

• 生田 孝

  大阪電通大

• 志水 隆一

  阪大・工

書誌事項

タイトル別名

• Estimation and elimination of coma-aberration from an observed image -Application to Electron Microscopy-

収録刊行物

• 電子顕微鏡

  電子顕微鏡 34 115-, 1999-05-01

詳細情報

• CRID: 1572543024135702144
• NII論文ID: 10004538895
• NII書誌ID: AN00145000
• ISSN: 04170326
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles