1枚の観察像からのコマ収差測定・除去法 -電子顕微鏡への応用- Estimation and elimination of coma-aberration from an observed image -Application to Electron Microscopy-

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収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 34, 115, 1999-05-01

参考文献:  2件中 1-2件 を表示

  • <no title>

    ZEMLIN F.

    Ultramicroscopy 4, 241, 1979

    被引用文献1件

  • <no title>

    IKUTA T.

    J.Electron Microsc. 38, 415, 1989

    被引用文献7件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004538895
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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