位相スペクトル法におけるCOS評価法採用によるモデルフィッティングの改善 Improvement of the model fitting processing by adopting the cos-estimator in the phase spectrum method

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収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 34, 118, 1999-05-01

参考文献:  2件中 1-2件 を表示

  • <no title>

    ICHISE N.

    Ultramicroscopy 68, 181-200, 1997

    DOI 被引用文献5件

  • <no title>

    KOSTER A. J.

    Ultramicroscopy 27, 251-272, 1989

    DOI 被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004538902
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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