PREPARATION OF SEM SPECIMENS BY ION BEAM ETCHING FOR ENHANCED CHANNELING AND ORIENTATION IMAGING

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収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 34, 155, 1999-05-01

参考文献:  2件中 1-2件 を表示

  • <no title>

    ALANI R.

    Proc.55th.Annual.Meeting of MSA 363, 1997

    被引用文献1件

  • <no title>

    WRIGHT S. I.

    J.Computer Assisted Microscopy 5, 209, 1993

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004539010
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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