HIGH-RESOLUTION ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPY OF FULLERENES AND NANOTUBES IN BORON NITRIDE

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著者

    • GOLBERG D.
    • National Institute for Research in Inorganic Materials
    • BANDO Y.
    • National Institute for Research in Inorganic Materials
    • HAN W.
    • National Institute for Research in Inorganic Materials
    • SATO T.
    • National Institute for Research in Inorganic Materials

収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 34, 168, 1999-05-01

参考文献:  1件中 1-1件 を表示

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    STEPHAN O.

    Appl.Phys. A 67, 107, 1998

    被引用文献2件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004539040
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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