UHV-TEM法によるAg/Si(111)-√3×√3界面構造の観察

書誌事項

タイトル別名
  • Structure of Ag/Si(111)-√3x√3 Interface observed by UHV-TEM

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詳細情報

  • CRID
    1572543024135417984
  • NII論文ID
    10004539078
  • NII書誌ID
    AN00145000
  • ISSN
    04170326
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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