Structure of Ag/Si(111)-√3x√3 Interface observed by UHV-TEM
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- SIGEKI S.
- 東工大・総理工
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- OSHIMA Y.
- 東工大・総理工
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- HIRAYAMA H.
- 東工大・総理工
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- TAKAYANAGI K.
- 東工大・総理工
Bibliographic Information
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- UHV-TEM法によるAg/Si(111)-√3×√3界面構造の観察
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Journal
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- 電子顕微鏡
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電子顕微鏡 34 184-, 1999-05-01
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1572543024135417984
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- NII Article ID
- 10004539078
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- NII Book ID
- AN00145000
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- ISSN
- 04170326
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- CiNii Articles