Characterization of the Cubic A1N Layer Grown on TiN(001) Substrate

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収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 34, 194, 1999-05-01

参考文献:  3件中 1-3件 を表示

  • <no title>

    LIN W. T.

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    被引用文献4件

  • <no title>

    MA X. L.

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    被引用文献1件

  • <no title>

    IVANOV I.

    J. Appl. Phys. 78, 5721, 1995

    DOI 被引用文献2件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004539102
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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