HD-2000形超薄膜評価装置の開発 Development of the HD-2000 ultra thin film evaluation system

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収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 34, 200, 1999-05-01

参考文献:  2件中 1-2件 を表示

  • <no title>

    HASHIMOTO T.

    Proc.ICEM-14 I, 85-86, 1998

    被引用文献1件

  • <no title>

    ISHITANI T.

    J.Electron Microsc. 43, 322-326, 1994

    被引用文献3件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004539115
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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