HD-2000のプローブ径と観察および分析性能 Electron probe sizes of HD-2000 and its capability in observation and analysis

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著者

収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 34, 201, 1999-05-01

参考文献:  1件中 1-1件 を表示

  • <no title>

    HASHIMOTO T.

    Proc.of the 14th ICEM I, B, 85, 1998

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004539118
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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