暗視野走査透過電子顕微鏡のコントラスト伝達関数

• 田中 信夫

  名古屋大学工学研究科

• HU J.J.

  名古屋大学工学研究科

• 川崎 正博

  日本電子

書誌事項

タイトル別名

• Contrast transfer function of dark-field scanning transmission electron microscope

収録刊行物

• 電子顕微鏡

  電子顕微鏡 34 204-, 1999-05-01

詳細情報

• CRID: 1573387449065478656
• NII論文ID: 10004539123
• NII書誌ID: AN00145000
• ISSN: 04170326
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles