分析電子顕微鏡-X線エネルギー分散型分光法における検出感度の測定

• 渡辺 万三志

  九州大学超高圧電子顕微鏡教室

• WILLIAMS David B.

  Dept.Mater.Sci.& Eng., Lehigh University

書誌事項

タイトル別名

• Measurements of detectability in analytical electron microscopy-X-ray energy dispersive spectroscopy

収録刊行物

• 電子顕微鏡

  電子顕微鏡 34 206-, 1999-05-01

詳細情報

• CRID: 1570572699298379648
• NII論文ID: 10004539130
• NII書誌ID: AN00145000
• ISSN: 04170326
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles