広範囲高分解能電子顕微鏡(LA-HREM)によるY-Ba-Cu-O超伝導体内の第二相と欠陥分布の定量化 Quantitative Analyses of Distribution of Defects and Second Phases in Y-Ba-Cu-O Superconducting Bulks

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収録刊行物

  • 電子顕微鏡  

    電子顕微鏡 34, 211, 1999-05-01 

参考文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004539144
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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