HRTEMと両立する超高圧電子顕微鏡用二重イオン注入システムの開発 Development of dual ion implantation system for a high-voltage transmission electron microscope compatible with HRTEM

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収録刊行物

  • 電子顕微鏡  

    電子顕微鏡 34, 222, 1999-05-01 

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004539161
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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