Angular Dependence of B-K Edges in EELS

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著者

    • LEE Y.-S.
    • Institute for Advanced Materials Processing, Tohoku University
    • MURAKAMI Y.
    • Institute for Advanced Materials Processing, Tohoku University
    • SHINDO D.
    • Institute for Advanced Materials Processing, Tohoku University

収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 34, 228, 1999-05-01

参考文献:  2件中 1-2件 を表示

  • <no title>

    進藤大輔

    材料評価のための分析電子顕微鏡法, 1999

    被引用文献14件

  • <no title>

    倉田博基

    第10回分析電子顕微鏡討論会予稿集 7, 1994

    被引用文献2件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004539170
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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