Alにイオン注入で生成したXe析出物のEnergy-Filtered ImagingとEELSによる解析

• 宋 明暉

  金属材料技術研究所

• 三石 和貴

  金属材料技術研究所

• 古屋 一夫

  金属材料技術研究所

書誌事項

タイトル別名

• Analysis of Xe precipitates in Al formed with ion implantation by means of Energy-Filtered Imaging and EELS

収録刊行物

• 電子顕微鏡

  電子顕微鏡 34 229-, 1999-05-01

詳細情報

• CRID: 1570009749344955904
• NII論文ID: 10004539173
• NII書誌ID: AN00145000
• ISSN: 04170326
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles