ディジタル画像処理技術を用いた半導体BSE検出器の高域制限の検討と画質改善 Examination of high-frequency limit of a semiconductor BSE detector and its image quality improvement using digital image processing techniques

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収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 34, 254, 1999-05-01

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    REIMER Ludwing

    Scanning Electron Microscopy, 190-192, 1985

    被引用文献2件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004539230
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
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