ナノビーム電子線を用いた極微構造解析とイメージング(2) Structure analysis of ultimately small areas and their imaging by using nm-sized electron beam (II)

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  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 34(3), 211-216, 1999-11-30

    日本電子顕微鏡学会

参考文献:  27件中 1-27件 を表示

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    田中信夫

    マクロビームアナリシスハンドブック 199, 1985

    被引用文献1件

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    CREWE A. V.

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    MCGIBBON M. M.

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  • Structural Study of an Al_<72>Ni_<20>Co_8 Decagonal Quasicrystal Using the High-Angle Annular Dark-Field Method

    Saitoh Koh , Tsuda Kenji , Tanaka Michiyoshi , KANEKO Kenji , TSAI An Pang

    Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters 36(10B), L1400-L1402, 1997-10-15

    応用物理学会 参考文献18件 被引用文献22件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004539917
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    04170326
  • NDL 記事登録ID
    4932692
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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