ナノビーム電子線を用いた極微構造解析とイメージング(2)

• 田中 信夫

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Other Title

• ナノ ビーム デンシセン オ モチイタ キョクビ コウゾウ カイセキ ト イメージング 2

Journal

• 電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編

  電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編 34 (3), 211-216, 1999-11

  東京 : 日本顕微鏡学会

Details

• CRID: 1520572360259203584
• NII Article ID: 10004539917
• NII Book ID: AN00153086
• ISSN: 04170326
• NDL BIB ID: 4932692
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4932692
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles