エネルギーフィルタTEMによる半導体デバイスの観察 Observation of semiconductor device by energy filter TEM

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 34(3), 220-223, 1999-11-30

    日本電子顕微鏡学会

参考文献:  12件中 1-12件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004539956
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    NOT
  • ISSN
    04170326
  • NDL 記事登録ID
    4932746
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
ページトップへ