EPMA分析における検出限界とZAF補正 Resolution and ZAF correction in EPMA analysis

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著者

収録刊行物

  • 軽金属

    軽金属 50(4), 179-182, 2000-04-30

    軽金属学会

参考文献:  3件中 1-3件 を表示

  • <no title>

    内山郁

    X線マイクロアナライザ, 1972

    被引用文献2件

  • <no title>

    副島啓義

    X線マイクロアナリシス, 1987

    被引用文献1件

  • 小特集『検出限界』

    『21世紀基金』企画運営委員会

    ぶんせき 11, 924, 1995

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004548926
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00069773
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    04515994
  • NDL 記事登録ID
    5362390
  • NDL 雑誌分類
    ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
  • NDL 請求記号
    Z17-284
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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