軽金属材料の科学と技術--21世紀への展望〔含 英語原文〕 Characterization of Light Metal Alloys at the Atomic Level by Atom Probe Field Ion Microscopy

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  • 軽金属

    軽金属 50(6), 255-265, 2000-06-30

    軽金属学会

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  • Field Ion Microscopy

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    被引用文献1件

  • Atom-Probe Microanalysis

    MILLER M. K.

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    被引用文献2件

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    CEREZO A.

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  • Evidence of multi-layer GP zones in Al-1.7 at% Cu alloy

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    Kazuhiro Hono , Toshio Sakurai , National Research Institute for Metals , Institute for Materials Research Tohoku University

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004549079
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00069773
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    04515994
  • NDL 記事登録ID
    5381284
  • NDL 雑誌分類
    ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
  • NDL 請求記号
    Z17-284
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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