スピン偏極走査電子顕微鏡における磁区コントラストの解析 Analysis of Magnetic-domain Contrast of the Spin-SEM

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抄録

The electron spin-polarization scanning electron microscope (spin-SEM) uses the polarization of secondary electrons scattered out from magnetic materials to image the surface magnetic structure. The magnetic-domain contrast of the spin-SEM depends on the incident electron energy and the incident angle. We calculated the spin polarization of secondary electrons using a Monte Carlo simulation of electron scattering in magnetic materials based on the single scattering model.

収録刊行物

  • 真空  

    真空 43(3), 259-262, 2000-03-20 

    The Vacuum Society of Japan

参考文献:  10件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004561639
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00119871
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    SHO
  • ISSN
    05598516
  • NDL 記事登録ID
    5360928
  • NDL 雑誌分類
    ZN15(科学技術--機械工学・工業--流体機械)
  • NDL 請求記号
    Z16-474
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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