GaAs分子線成長における仕事関数の走査電子顕微鏡によるその場測定 In-situ Measurement of Work Function on GaAs Surface during MBE Growth by Scanning Electron Microscopy

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  • 真空

    真空 43(3), 393, 2000-03-20

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004561920
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00119871
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    05598516
  • データ提供元
    CJP書誌 
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