GaAs分子線成長における仕事関数の走査電子顕微鏡によるその場測定

• 菊池 通真

  大阪府立大学先端科学研究所

• 東野 徒士之

  大阪府立大学先端科学研究所

• 棚橋 克人

  大阪府立大学先端科学研究所

• 大坂 次郎

  NTTフォトニクス研究所

• 河村 裕一

  大阪府立大学先端科学研究所

• 井上 直久

  大阪府立大学先端科学研究所

• 本間 芳和

  NTT物性科学基礎研究所

書誌事項

タイトル別名

• In-situ Measurement of Work Function on GaAs Surface during MBE Growth by Scanning Electron Microscopy

収録刊行物

• 真空

  真空 43 (3), 393-, 2000-03-20

詳細情報

• CRID: 1571980074176852992
• NII論文ID: 10004561920
• NII書誌ID: AN00119871
• ISSN: 05598516
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles