電離真空計の繰返し校正試験 Longterm Calibration Test of Ionization Gauge

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収録刊行物

  • 真空

    真空 43(3), 407, 2000-03-20

参考文献:  4件中 1-4件 を表示

  • <no title>

    JIS Z8750

    真空計校正方法

    被引用文献1件

  • <no title>

    平田

    真空 36, 420, 1993

    被引用文献3件

  • <no title>

    平田

    真空 40-11, 841, 1997

    被引用文献3件

  • <no title>

    HIRATA M.

    Vacuum 48-7/9, 719, 1997

    DOI 被引用文献2件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004561964
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00119871
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    05598516
  • データ提供元
    CJP書誌 
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