タングステン探針によってシリコン(111)表面に誘起される歪みの反射型電子顕微鏡観察

• 内藤 賀公

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 高柳 邦夫

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 大島 義文

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 平山 博之

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

書誌事項

タイトル別名

• REM-STM Observation of the Straining on a Si(111) Surface Induced by a Tungsten Tip

収録刊行物

• 真空

  真空 43 (3), 436-, 2000-03-20

詳細情報

• CRID: 1573105974083342464
• NII論文ID: 10004562052
• NII書誌ID: AN00119871
• ISSN: 05598516
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles